- ใช้งานในช่วงแสง Ultraviolet และ Visible light สามารถควบคุมการทำงานได้ทั้ง
- จอแสดงผลแบบ color LCD with backlight และแป้นพิมพ์อยู่ที่ตัวเครื่อง
- สามารถต่อเข้ากับชุด Computer ทำงานบน Window XP
- มี 4 ฟังก์ชั่นในการทำงาน คือ
1. Photometry
2. Wavelength Scan
3. Time scan
4. Multi-wavelength measurement (1- 6 wavelengths)
- วัดค่าการดูดกลืนได้ในช่วง 190 ถึง 1,100 นาโนเมตร
- ค่าความถูกต้อง (Wavelength accuracy) ไม่เกิน +/- 0.3 นาโนเมตร ที่ความยาว
คลื่น 656.1 และ 486.0 นาโนเมตร
- ค่าความเที่ยงตรงในการวัดซ้ำ +/- 0.1 นาโนเมตร
- แยกแสงด้วย Seya Namioka Monochromator โดยใช้ Concave Diffraction
grating ชนิดทางเดิน ลำแสงคู่ (Double Beam)
- ตัวตรวจวัด (Detector) ชนิด Silicon photodiode
- หลอดกำเนิดแสงชนิด Deuterium และ Tungsten-Iodide ปรับเปลี่ยนอัตโนมัติ
- ขนาดความกว้างลำแสงผ่าน (Spectral bandpass) 1.5 นาโนเมตร
- ค่ารบกวนแสง(Stray light) ไม่เกิน 0.05% ที่ 220(Nal) และ 340(NaNO2) นาโนเมตร
- เลือกการวัดได้ 4 แบบ คือ
1. Absorbance (Abs) ในช่วง -3 ถึง 3 Abs
2. Transmittance (%T) ในช่วง 0 ถึง 300%T
3. Single beam (energy)
4. Concentration
- ค่าความถูกต้องในการวัดแสง (Photomatric Accuracy)
+/- 0.002 Abs ในช่วงการวัดตั้งแต่ 0 ถึง 0.5 Abs
+/- 0.004 Abs ในช่วงการวัดตั้งแต่ 0.5 ถึง 1.0 Abs
+/- 0.008 Abs ในช่วงการวัดตั้งแต่ 1.0 ถึง 2.0 Abs
+/- 0.3%T
- ค่าความแม่นยำของการวัดแสง (Photometric Repeatability)
+/- 0.001 Abs ในช่วงการวัดตั้งแต่ 0 ถึง 0.5 Abs
+/- 0.002 Abs ในช่วงการวัดตั้งแต่ 0.5 ถึง 1.0 Abs
+/- 0.004 Abs ในช่วงการวัดตั้งแต่ 1.0 ถึง 2.0 Abs
+/- 0.1%T
- มี USB Port สำหรับบันทึกข้อมูลลงใน USB flash memory
- เลือกความเร็วในการสแกนได้ ที่ 10, 100, 200, 400, 800, 1,200, 2,400 และ 3,600
นาโนเมตร/นาที
- ค่าคงที่ของเส้นฐาน ( Baseline stability ) มีค่า 0.0003 Abs/hr
- สัญญาณรบกวน ( Noise level ) ไม่เกิน 0.00015 Abs
- ใช้ไฟฟ้า 220 โวลท์
- ผลิตภัณฑ์จาก Hitachi ประเทศญี่ปุ่น
- รับประกันคุณภาพ 1 ปี
- พร้อมอุปกรณ์ดังนี้
1. 2-Position Cell Holder สำหรับ Cell ขนาด 10 mm จำนวน 1 ชุด
2. Quartz Cell ขนาด 10 mm. จำนวน 4 ชิ้น
3. UV Solution Program จำนวน 1 ชุด
4. Report Generator Program จำนวน 1 ชุด
5. คู่มือการใช้งาน จำนวน 1 เล่ม
- Optical system Double beam
- Wavelength range 190 to 1,100nm
- Spectral bandpass 1.5nm
- Stray light 0.05% or less (220nm for NaI, 340nm for NaNO2)
- Wavelength accuracy ±0.3nm (at 656.1, 486.0nm)
- Wavelength setting repeatability ±0.1nm
- Photometric range
- 3 to 3Abs
0 to 300%T
- Photometric accuracy (certified according to NIST SRM 930)
± 0.002Abs (0 to 0.5 Abs)
± 0.004Abs (0.5 to 1.0Abs)
± 0.008Abs (1.0 to 2.0Abs)
± 0.3%T
- Photometric repeatability( certified according to NIST SRM 930)
± 0.001Abs (0 to 0.5Abs)
± 0.002Abs (0.5 to 1.0Abs)
± 0.004Abs (1.0 to 2.0Abs)
± 0.1%T
- Wavelength scan speed 10, 100, 200, 400, 800, 1,200, 2,400, 3,600nm/min
- Response Fast, standard, slow
- Baseline stability 0.0003Abs/h (at 500nm, 2 hours after power-on)
- Noise level ±0.00015Abs (at 500nm)
- Baseline flatness ±0.0006Abs (within 200 to 950nm)
- Light source WI and D2 lamps
- Light source changeover Auto (user selectable from 325 to 370nm)
- Detector Silicon photodiode
- Display U-2900: color LCD with backlight (26.4cm)
- Printer I/F U-2900: Centronics interface
- Serial I/F RS-232C (exclusive for UV Solutions program)
- Size (main unit) U-2900: 500 (W) × 605 (D) × 283 (H)mm (with LCD lowered)
- Weight (main unit) U-2900: 31kg, U-2910: 29kg
- Power supply 100, 115, 220, 230 or 240 V, 50/60Hz
- Power consumption 300VA
- Products from Hitachi / Japan
- Warranty 1 year
